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Fischer膜厚儀的標準片校準方法介紹

更新時間:2021-12-28   點擊次數(shù):2875次
  Fischer膜厚儀的優(yōu)點在于它是非接觸測量,不會因為磨損而損失精度,尤其適用于在運動中或惡劣環(huán)境中進行多點測量。而且,相對于超聲波測厚儀精度更高,相對X射線測厚儀沒有輻射污染。因此,在在線厚度測量方面具有明顯的優(yōu)勢。
  用Fischer膜厚儀在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
  下面小編要與大家分享的是Fischer膜厚儀的標準片校準方法:
  一、校準箔
  對于磁性方法,“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準,而且比用有覆蓋層的標準片更合適。
  二、基體
  1、對于磁性方法,膜厚儀標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性,可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。
  2、如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度,可采用下面兩種方法進行校準:
  (1)在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準。
  (2)用一足夠厚度的,電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件,但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件,不能采用襯墊法。

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